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Tape-out生死时速:华大九天Argus重塑大规模SoC芯片物理验证效率!

来源:半导体行业观察

2025-08-14 09:29:13

(原标题:Tape-out生死时速:华大九天Argus重塑大规模SoC芯片物理验证效率!)

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“这次的DRC/LVS什么时候能跑完?”

“报告里的Error太多了,哪个是真问题,哪个是能Waive的?”

“快Tape-out了,版图改了一版,为了保证流片质量,又必须要重新跑一遍所有的DRC/LVS等物理全集验证,时间还来得及吗?”

如果你也是芯片设计团队中的一员,上述“灵魂拷问”你肯定听过不止一遍。

随着芯片尺寸增大、工艺节点推进,我们不知从何时开始就早已习惯在物理验证阶段苦苦挣扎。一个改动就可能引发数小时、甚至数天的物理验证工作。更别提那几万条“眼花缭乱”的错误信息,让人如坠迷雾。

但就在我们一度以为“只能硬扛”时,华大九天的Argus横空出世,带来了意想不到的转变。这是一次彻底的工作方式重塑,从拖慢节奏的“瓶颈”,变成加速项目交付的“助推器”,Argus不仅让验证速度提升了一个数量级,更让团队协作效率、设计回归节奏和工程师体验全面跃升。它以国产EDA的创新实力,重新定义了物理验证。

接下来,我将以一线工程师的身份亲身体验,与大家分享Argus在实际工作中的“惊艳表现”——并见证它是如何让我们从“焦头烂额”走向“游刃有余”的。

01

“快”就一个字:

验证速度与效率的革命性提升

“快”,是我们对Argus最直观,也是最深刻的印象。

在过去,在大规模数字SoC芯片中,面对几十个G甚至上百G的OASIS版图数据,受到资源限制,我们一般会把全芯片进行模块分割,分别跑DRC检查,最后再整合起来。耗时费力,甚至需要通宵运行。这不仅拖慢了整个设计迭代的节奏,更让我们在Tape-out前的关键时期殚精竭虑,每一次小小的改动都让我们变得提心吊胆,因为我们根本没有足够的时间去进行完整的回归验证。

Argus的出现彻底改变了这一窘境。它强大的分布式计算引擎,能够充分利用服务器集群上千个CPU核计算资源,可以在几个小时内完成全芯片的DRC检查。对于大规模SoC的DRC,其包括基础层(Base Layer)、金属层(Metal Layer)、闩锁效应(Latch up)、电压检查(Voltage)和全芯片(Full Chip)五大部分的检查。在Base Layer检查中,市场既有主流方案需要19.3小时,而Argus仅需15小时,节省4.3小时(一上午)时间。Latch up和Voltage具有3倍以上加速比,直接将36小时降低至11小时以内。Full Chip检查更是在主流方案采用712个CPU核、运行长达4天、无法得到结果被Cancel情况下,Argus仅用24.6小时就跑完了,节省至少3天时间。

Argus LVS在芯片设计验证中展现出卓越的实时处理能力,尤其在大规模SoC数据场景下优势显著。从柱状图对比可见,随着OASIS数据量从187MB增至82GB,Argus LVS的处理速度始终大幅领先传统方案,最高提速达18倍(2.1GB数据),在53G规模下提速12倍。Argus的多机多核并行技术效果突出,让验证时间从原先的几天缩短到了一天之内,有的甚至几个小时完成。在60G OASIS尺寸大规模SoC的LVS验证中,更是从市场主流方案的超过100多小时缩短至Argus的30小时以内。


这意味着什么?

实现‘DRC/LVS不过夜’:上午提交的大规模版图,下午就能拿到完整的DRC/LVS结果。这意味着我们可以在下班前完成问题的定位和修复任务分配,彻底告别了为了等一个结果而通宵或打断思路的低效循环,真正形成了‘当天问题当天闭环’的高效迭代。

迭代验证毫无压力:在项目后期,我们可以更频繁地进行全芯片的回归验证,确保每一次修改都没有引入新的问题,这对于保证流片质量至关重要。

资源利用率最大化:Argus让我们的硬件投入真正发挥了价值,上千个CPU核心同时火力全开的场面,让我们对按时完成项目交付充满了信心。

这种极致的速度,把物理验证从一个“阻塞点”变成了一个“加速器”,极大地提升了我们整个团队的设计效率。

02

从“大海捞针”到“精准定位”:

易读易用的结果分析平台

作为一名版图工程师,每天跟大规模集成电路设计项目死磕,Argus的PVE结果可视化平台,妥妥是我的 “神助攻”。

大的SoC项目时时刻刻在多人、多角色协作,不仅有多个Block模块级的版图工程师们,还有Top顶层工程师,还有项目管理PM,以及设计Lead等,大项目人数众多。同时,一个超大SoC设计首次版图TOP一般都有几万个DRC错误结果,需要通过分配给各个责任人Owner,来每天进行逐步清理,逐步迭代到几百万、几十万,几万,几千以内,才能流片。所以有时候即使DRC/LVS速度再快,但如果给出的结果是一份混杂着成千上万条伪错误、让人眼花缭乱的报告,那它的价值也会大打折扣。相信我们都经历过在海量error中“大海捞针”的痛苦,耗费大量时间和精力去甄别、过滤。有时候数据传递像 “猜谜”,改个结果得翻遍聊天记录找修改时间。但Argus一来全变了!

无版图review:

无障碍传递DB分析数据;

多用户review:

实时记录review信息:User/Time/Comment等;

多角色review:

限定对应角色review:Designer/PIE等;

多状态review:

结果分类及标记:Pass/Rejected/Pending等;

图像实时跟随:

显示直观,可操作性强;

历史记录管理:

系统级管理DRC结果数据;

“无版图 review”让DB分析数据无障碍传递,不用再为沟通数据扯破头;“多用户 review”实时记User/Time/Comment,谁改了啥、啥时候改的,一目了然,追溯问题轻松到飞起。角色分工也清晰!“多角色 review”把 Designer、PIE和版图工程师的权限分清晰,各干各的活,不用操心越界。“多状态review”结果状态分类更绝,“Pass/Rejected/Pending”清清楚楚 ,每天合数据、做 DB diff,筛出修改内容,再结合DRC和LVS收敛情况判断结果稳不稳,三方review一轮,决定流片,效率直接拉满。“图像实时跟随”更是救命,版图细节多,以前找小错误像大海捞针,现在一点数据,对应版图位置秒现,排查问题快多了。“历史记录管理”还能存DRC结果数据,遇到类似问题,翻历史记录找方案,少走好多弯路。


Argus这平台,从协作到分析,把难题全啃了,让我这版图工程师干活顺风顺水,项目推进嗖嗖快,真离不开它!

告别“天书”,拥抱可视化:PVE平台为用户提供了非常直观的图形界面,我们可以轻松地在版图上高亮和定位每一个violation,所有信息一目了然。

智能分组与排序,直击要害:可以根据Rule名称、Cell名称等多种方式对海量的结果进行自定义分组和排序,快速聚焦到我们最关心的模块或规则上,大大减少了筛选和分析的负担。

增量比较,只看“变化点”:这是我们团队最喜欢的功能之一!在前后两个版本的DRC结果数据库之间,PVE可以进行差异化比较,并清晰地高亮出哪些错误是“新增的(Added)”、哪些是“已修复的(Reduced)”,哪些发生了“变化(Changed)”。这让我们在回归验证中,可以忽略掉已知或已waive的存量问题,只专注于新引入的风险,效率提升何止数倍。

多DB整合,协同作战:对于大型项目拆分rule的场景,不同工程师负责不同模块的DRC修复,PVE可以轻松整合多个结果DB,并进行统一校验和管理,让团队协作变得前所未有的顺畅。

有了PVE平台,我们不再是“报告阅读者”,而是成为了“数据分析师”。我们能够快速洞察问题的本质,精准定位到那些真正影响芯片良率和可靠性的关键问题上,从而将宝贵的精力投入到最高价值的设计与调试工作中。

结语

总而言之,Argus为我们团队带来的,远不止一个更快的工具。它从根本上重塑了我们的物理验证流程,将工程师从‘等结果’和‘筛错误’的低效循环中彻底解放。如今,面对文章开头的那些‘灵魂拷问’,我们能充满底气地回答:验证能跑完,结果看得懂,Tape-out有保障。这,就是Argus带给我们的核心价值。

在芯片设计的赛道上,选择一个好的EDA工具,就是选择一个可靠的合作伙伴。对我们而言,Argus正是这样一位值得信赖的伙伴。

*免责声明:本文由作者原创。文章内容系作者个人观点,半导体行业观察转载仅为了传达一种不同的观点,不代表半导体行业观察对该观点赞同或支持,如果有任何异议,欢迎联系半导体行业观察。

今天是《半导体行业观察》为您分享的第4125期内容,欢迎关注。

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