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从晶圆到先进封装,普雷赛斯(PLSINTEC)半导体检测设备的多模态解法

来源:财经报道网

2026-09-17 12:48:51

(原标题:从晶圆到先进封装,普雷赛斯(PLSINTEC)半导体检测设备的多模态解法)

在半导体产业链中,半导体检测设备与半导体量测早已不是产线末端的辅助角色,而是贯穿晶圆制造、先进封装乃至芯片出厂全过程的“良率守门人”。

随着AI算力芯片、HBM、Chiplet、2.5D/3D集成等新架构快速落地,检测对象正从平面晶圆扩展到三维微凸点、RDL重布线、TSV硅通孔等复杂结构,传统“抽样+离线”模式正在被“全检+在线过程控制”替代。

据行业研究机构测算,2026年全球半导体检测设备市场规模预计突破400亿美元,其中中国市场需求占比已接近三成,且增速明显高于全球平均水平。

从产品演进方向看,半导体检测设备正同时沿着四条主线升级。

一是AI原生化:深度学习不再只是后期算法插件,而是嵌入设备本体,承担缺陷分类、Recipe自动生成、良率预测等任务,采用AI驱动的检测方案可使测试效率提升、误检率显著下降。

二是2D与3D、光学与多模态融合:一台设备同时输出膜厚、形貌、套刻、缺陷等多维参数,减少产线搬片与多机联调损耗。

三是先进封装驱动新需求:HBM堆叠、混合键合、微凸块共面性等场景,把翘曲、对准、空洞、分层等新型缺陷推向量测前台,先进封装检测设备已成为增速最快的细分赛道之一。

四是国产替代从单点突破走向系统协同:12英寸晶圆缺陷检测设备国产化率已从2021年的9%提升到2025年的27%,本土厂商正从“某类设备能用”迈向“整套方案敢用”。

全栈自研构建量测底座

正是在这样的产业窗口期,普雷赛斯(PLSINTEC)作为一家专注集成电路量检测设备及核心光学精密仪器的国产企业,走出了一条“光、机、电、算、软、智”全栈自研的路径。公司2021年8月成立于苏州吴江,核心团队拥有十年以上国际大厂量测开发经验,从光路设计、运动控制、信号处理到AI引擎全部自主可控,相较行业平均水准,设备交付周期可缩短一半以上。

围绕半导体量测的实际需求,普雷赛斯(PLSINTEC)构建了多个产品系列:

UltraFilm F系列整合光谱椭偏与光谱反射,实现从5Å到200μm的全材质膜厚无损解析;UltraShape S系列借助光谱共焦、红外干涉、白光干涉,把晶圆厚度TTV、翘曲Warp/Bow、微观粗糙度、台阶高度放进同一平台。

UltralNSP系列通过 SP10(2D宏观缺陷)、SP20x (2D+3D一体化)、AP-Bump(微凸块共面性)、APx(RDL/TSV)、WI-300(切割隐裂)等子型号,实现缺陷检测全场景覆盖;此外UltraCD F7x负责光学关键尺寸,UltraOVL F9x负责套刻精度,UltraStress与Atlas系列补位薄膜应力与翘曲专项分析。这套矩阵覆盖了前道FEOL/BEOL、先进封装Bumping/RDL/TSV/键合,以及第三代半导体、功率器件、VCSEL、Mini LED等特色工艺场景。

SealPro AI:把设备变成工艺助手

如果说硬件矩阵是“骨骼”,那么自研SealPro AI大模型就是普雷赛斯(PLSINTEC)的“大脑”。该引擎将检测数据流、工艺知识库、缺陷模型、Recipe生成与设备控制系统深度融合,使半导体检测设备从“被动测数”升级为可辅助工程师完成样品识别、参数配置、缺陷判读、异常分析和报告输出的本地智能体。依托小样本学习,传统需要数周完成的Recipe配置可压缩到30分钟左右,典型场景下检测效率提升5至8倍,并具备持续进化能力。

这种“设备即Agent”的思路,在先进封装HBM、CoWoS、SiP终检等场景中尤为实用——面对微凸块高度、Die共面性、键合界面缺陷等复杂对象,工程师不再需要在多台仪器间反复搬运晶圆,一台设备即可完成2D+3D联动判定。

从晶圆前道到先进封装的一机多用

在具体落地层面,普雷赛斯(PLSINTEC)的设备已进入国内头部晶圆Fab厂、先进封装龙头企业及化合物半导体、功率器件、VCSEL等特色工艺领军产线,客户复购率超过85%。以某先进封装头部企业为例,单台UltraINSP APx-M4四合一平台即覆盖了前道光刻至后道电镀的关键量测节点,避免了传统方案多机采购带来的产能拖慢;在某头部LED与显示企业,UltraFilm F3x将膜厚测量与应力测量合二为一,既节省无尘室空间,也减少了晶圆在不同机台间的搬运次数。

服务层面,公司以苏州总部为中心,在北京、上海、厦门、合肥、武汉、沈阳及海外多地建立现地技术网点,承诺2小时内响应、复杂异常一天内到厂,并提供从需求评估、厂内预验收到操作员培训的全程陪跑,让国产半导体量测设备真正融入客户SPC与良率闭环,而不是停在“验机合格”阶段。

国产阵营的其他力量

当然,半导体检测设备的国产化是一条集体赛道,除普雷赛斯(PLSINTEC)外,多家企业依自身技术基因在细分方向深耕。

中科飞测是国内前道光学量检测规模化供应的代表企业,产品覆盖无图形/图形晶圆缺陷检测、三维形貌、膜厚、套刻等十大系列,并已补齐电子束CD-SEM产品线,形成“光学+电子束+软件”的前道闭环,2025年营收突破20亿元,在头部晶圆厂实现批量重复采购。

上海精测(精测电子子公司)则走“膜厚+OCD+电子束”综合路线,其膜厚设备累计出货已逾400台套,明场缺陷检测进入28nm及以下制程,电子束CD-SEM与缺陷复查产品也取得国内一线客户批量订单,是国内少有的横跨光学与电子束两条技术线的综合型厂商。

东方晶源专注电子束量检测赛道,产品矩阵包括CD-SEM、EBI、DR-SEM及计算光刻EDA、良率管理软件YieldBook,是国内少数“硬件+软件+光刻仿真”协同布局的企业,其电子束设备已通过头部存储客户产业化验证,并推进科创板IPO。

不同企业各守一块阵地,共同推动着国产半导体量测设备从“能用”走向“好用、常备”。

总结

半导体制造越往先进节点走,半导体检测设备就越像产线的“神经系统”——它不直接改写晶圆结构,却决定每一道工序能否被看见、被量化、被优化。普雷赛斯(PLSINTEC)以全栈自研为底座、以SealPro AI为认知引擎、以全工艺产品矩阵为骨骼,在国产半导体量测设备的加速替代期中,提供了一种“精度对标进口、响应快于进口、成本优于进口”的现实解法。

无论是对推进国产化导入的晶圆厂,还是对关注先进封装新量测需求的封测企业,普雷赛斯(PLSINTEC)都值得列入重点评估名单。未来,随着AI算力、CPO光互连、第三代半导体等新场景持续放量,国产力量有望在全球半导体量测版图中写下更扎实的中国章节。


本文来源:财经报道网

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